發(fā)布時(shí)間： 2022-09-23 點(diǎn)擊次數(shù)： 679次
接觸式靜電壓測(cè)試儀是一臺(tái)高阻抗輸入，低容抗輸入的數(shù)字測(cè)量?jī)x，真實(shí)測(cè)量靜電電壓，有體積小，攜帶方便和電池供電的特點(diǎn)。作為一臺(tái)真實(shí)，實(shí)時(shí)測(cè)量靜電電壓的測(cè)量?jī)x，它與靜電場(chǎng)測(cè)量計(jì)明顯的區(qū)別就是它的測(cè)量與靜電場(chǎng)強(qiáng)度無(wú)關(guān)。儀器是集高輸入阻抗、低輸入電容特點(diǎn)于一體的易于使用的數(shù)字式電壓表。測(cè)量施加電壓的兩板上的靜電力的大小或由該靜電力產(chǎn)生的某一極板的偏移（或偏轉(zhuǎn)）該靜電力產(chǎn)生的某一極板的偏移（或偏轉(zhuǎn)）來(lái)放映所加電壓的大小的表計(jì)。用于測(cè)量用于電力系統(tǒng)及電氣、電子設(shè)備制造部門測(cè)量工頻交流高電壓和直流高電壓。測(cè)量工頻高電壓時(shí)，測(cè)得的是電壓的有效值。如靜電計(jì)的測(cè)量精度高些，但只能適用于測(cè)量金屬體的靜電電壓或電位。
接觸式靜電壓測(cè)試儀是專為尋找和詳細(xì)分析生產(chǎn)制造過(guò)程中的ESD問(wèn)題及其根源而設(shè)計(jì)的。它可以直接測(cè)量導(dǎo)體的靜電壓而不會(huì)產(chǎn)生ESD事件和對(duì)器件造成損壞級(jí)別的射頻干擾(RFI).此儀器適用于測(cè)量電子配件或部件的導(dǎo)體部分,從而進(jìn)行分析,或預(yù)測(cè)可能的CDM失效問(wèn)題.它也可以用于測(cè)量生產(chǎn)過(guò)程中的導(dǎo)體材料或材質(zhì)物體或設(shè)備的靜電壓,以避免對(duì)ESD敏感器件產(chǎn)生MM失效問(wèn)題。
接觸式靜電壓測(cè)試儀測(cè)試中的注意事項(xiàng)：
測(cè)試過(guò)程中，一般情況下，不能直接對(duì)芯片進(jìn)行靜電放電。如有特殊需要，一定要對(duì)某芯片進(jìn)行靜電放電測(cè)試時(shí)，應(yīng)盡量減小每次靜電增加的幅度，這樣可以更好的測(cè)試出防靜電電壓真實(shí)值的接近值，使測(cè)試更加準(zhǔn)確。
測(cè)試過(guò)程中，為保障測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，每次靜電放電結(jié)束后到下次靜電放電開(kāi)始前的時(shí)間間隔不能太小，要留給系統(tǒng)足夠的恢復(fù)時(shí)間，即要留夠系統(tǒng)電荷釋放的時(shí)間，時(shí)間間隔一般為10秒鐘。待系統(tǒng)電荷充分釋放后,才能進(jìn)行下一次測(cè)試。
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